Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Категории ГОСТ Р 8.696-2010 по ОКС:
Статус документа:
действует
Назначение ГОСТ Р 8.696-2010:
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния
Поправки и изменения к ГОСТ Р 8.696-2010
стандарт не имеет поправок

Доступные для скачивания версии ГОСТ Р 8.696-2010:

В данный момент версий документа для скачивания не добавлено.

Мы стараемся пополнять базу документов еженедельно и из разных источников, в обозримом будущем версии для этого ГОСТа появятся.

Вы можете просмотреть online текст стандарта ГОСТ Р 8.696-2010.